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シンクロトロン用途向け

Electron beam detector 005
Electron beam detector 003
Electron beam detector 006

セラミック基板上に単一または複数接合された電子ビーム検出器用Siフォトダイオード。

Tag 特長

  • セラミック基板上に単一または複数接合
  • 接合部の薄型入射窓 < 50nm
  • 低暗電流(通常1nA/cm2未満)
  • アクティブ領域:50~550mm2(さまざまな形状やカスタムデザインにも対応)
  • 中心穴径:標準4mm、スリーブ:16x3mm
  • 光学窓なし

Description

利点

  • 高速読み出し(ナノ秒からピコ秒へ(FWHM))
  • 光起電力またはバイアスモードでの使用


アプリケーション

  • 低エネルギー(>1keV)電子ビームの高感度直接検出
  • 走査電子顕微鏡(SEM)による反射電子の検出
  • シンクロトロン用途向けフォトダイオード
  • 非破壊化学分析のための電子マイクロプローブ分析

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