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SiLi Detector X-ray

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X線スペクトロスコピー用シリコンリチウム検出器

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シリコンリチウムX線検出器は、ソリッドステートX線スペクトロスコピーシステムの中核部分です。 これらの検出器は、p型シリコンのリチウム補償またはドリフトによって得られるp-i-nデバイスで、現存の製造プロセスの中で最も注意深く制御された成果物です。

Tag 特長

  • 2~5mm厚の検出器は、SDDと比較して高エネルギーX線に対して優れた阻止能を提供
  • HPGe検出器と比較して2~3桁高い全エネルギーピーク比へのエスケープが可能

Description

シリコンリチウムX線検出器は、ソリッドステートX線スペクトロスコピーシステムの中核部分です。 これらの検出器は、p型シリコンのリチウム補償またはドリフトによって得られるp-i-nデバイスで、現存の製造プロセスの中で最も注意深く制御された成果物です。これらの検出器は、厳格な品質基準に従って製造されており、高性能で長期信頼性の高い製品を確保するためには不可欠な要素です。

Si(Li) X線検出器は、液体窒素クライオスタットと低ノイズ統合型トランジスタリセットプリアンプ(I-TRP)などから構成される検出器システムの不可欠なコンポーネントです。

これらの検出器は、当社のX-PIPS™ユニットや低エネルギーゲルマニウム検出器(LEGe™およびUltra-LEGe™検出器)などのシリコンドリフト検出器(SDD)の次に、X線測定アプリケーション市場での地位を確実に獲得しています。Si(Li)検出器は、最大5mm厚で製造が可能なため、SDD(最大500μm)よりもはるかに高い阻止能を備え、より高いエネルギーのX線まで使用できます(下のグラフ参照)。しかし、ゲルマニウムと比較すると、シリコンは同じ検出器の厚さの場合は阻止能は低くなります。しかし、シリコンの大きな利点は、ゲルマニウム(10~11keV)と比較して非常に低いエネルギー(約1.7keV)で特性X線があることです。 そのため、発生したX線は検出器ボリュームからエスケープしにくくなり、エスケープピークが目立たなくなります。つまり、Si(Li)検出器のエスケープピークに対する全エネルギーピークの比は、HPGe検出器と比較して2〜3桁高くなります。さらに、ゲルマニウムのX線の吸収端は10〜11keV付近にあり、いくつかの実験や用途において、ちょうど関心領域と重なります。ゲルマニウムの吸収端が関心領域内にあることで、スペクトルと分析が複雑になります。

アプリケーション

  • XRF、XRD
  • シンクロトロン用途(EXAFS、XANESなど)
  • X線スペクトロスコピー(EDSなど)
  • PIXE
  • メスバウアースペクトロスコピー

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