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ESLX-S and LTS Detectors

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Détecteurs Silicium-Lithium planaires segmentés pour les mesures des rayons X et des particules chargées

Eslx s and lts detectors 005

Les techniques de segmentation s’adaptent à toutes les conceptions de cristal : circulaire, rectangulaire, etc. Les détecteurs ESLX-S dans un cryostat unique offrent des capacités d’absorption ou d'imagerie des rayons X à haute énergie.

Tag Caractéristiques

  • ESLX-S : pour des mesures de rayons X hautes performances en physique (PIXE, synchrotrons, etc.), test non destructif et médecine
  • LTS : pour les mesures de particules chargées hautes performances en physique (conversion d’électrons, mini-orange) et RMS (surveillance de l’air)
  • La technique de segmentation propre à Mirion arrive à maturité
  • Gamme étendue de formes (pixels, bandes) et de segmentations (pistes droites, circulaires, simples ou doubles-faces)
  • Excellente résolution énergétique (150eV à 5,9keV pour ESLX-S, en fonction des géométries)
  • Bon comportement à des taux de comptage élevés
  • Épaisseur jusqu’à 10mm
  • Pas minimum 2mm
  • Parasites ≤ 1 %
  • Capacité de segmentation double-face en utilisant la technologie exclusive « thin window » de Mirion
  • Pour ESLX-S : LN2, cryogénérateur ou refroidissement Peltier
  • Les LTS sont utilisés à température ambiante mais peuvent être refroidis par effet Peltier au cas où des performances améliorées seraient nécessaires

Description

Les détecteurs segmentés Si(Li) (ESLX-S et LTS) sont fabriqués à l’aide d’une technologie exclusive permettant de concevoir des détecteurs segmentés au silicium uniques disponibles dans le monde entier.

Mirion a appliqué les techniques éprouvées de photolithographie (généralement utilisées en microélectronique) aux diodes Si(Li). Ainsi, toutes sortes de motifs de segmentation sont possibles (bandes droites ou courbes, pixels, etc.).

Mirion propose également une segmentation « thin window » double-face exclusive. Elle permet de construire des systèmes de télescope constitués de plusieurs couches de détecteurs Si(Li).

La segmentation offre de nombreux avantages :

  • Efficacité élevée grâce à une meilleure surface de couverture : suppression des zones d’ombre entre bandes consécutives.
  • Meilleure granularité : petit pas jusqu’à 2mm.
  • Réponse plus rapide : bon comportement à des taux de comptage élevés (jusqu’à 1million d’impulsions par seconde) grâce à des pré-amplificateurs rapides sans aucun compromis sur le rapport signal/bruit.
  • Capacité de photolithographie double-face, avec des pas allant jusqu’à 2 mm.
  • Excellente résolution FWHM : généralement 150eV à 5,9keV sur les appareils ESLX-S refroidis pour les mesures de rayons X.
  • Aucune diaphonie mesurable.

Les techniques de segmentation s’adaptent à toutes les conceptions de cristal : circulaire, rectangulaire, etc.

Plusieurs détecteurs Si(Li) peuvent être associés dans des réseaux pour augmenter la couverture angulaire ou peuvent être empilés.

Les détecteurs ESLX-S dans un cryostat unique offrent des capacités d’absorption ou d'imagerie des rayons X ou à haute énergie (imageries gamma).

Les détecteurs ESLX-S sont refroidis à la température de l’azote liquide et résistent à de nombreux cycles thermiques.

De telles caractéristiques font de la série ESLX-S le meilleur choix pour les mesures de rayons X dans de nombreuses applications telles que les expériences de physique ainsi que la détection non invasive.

Les détecteurs LTS fonctionnent à température ambiante ou sont refroidis par effet Peltier pour des performances améliorées par rapport à ceux à température ambiante.

Applications

  • PIXE (microsonde)
  • Synchrotron (EXAFS, lignes de faisceaux à usage médical)
  • Physique nucléaire
  • Contrôle non destructif
  • Radiographie
  • Caméra (caméras gamma)
  • Typiquement pour LTS : CAM (surveillance permanente de l’air) sur particules bêta

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