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X ray pips 2

SXD15-500-C

Détecteur à dérive en silicium (SDD) X-PIPS™

Le détecteur X-PIPS est un sous-système de spectrométrie sensible aux rayons X et aux rayons gamma basse énergie. 

Tag Caractéristiques

Le détecteur est constitué des éléments suivants :

  • Détecteur à dérive au silicium (SDD)
  • Fenêtre en béryllium
  • Préamplificateur CMOS
  • Alimentation de polarisation HT
  • Refroidisseur Peltier
  • Contrôleur de température

Description

Le détecteurX-PIPS est un sous-système de spectrométrie sensible aux rayonsX et aux rayons gamma basse énergie. Il est constitué d’un détecteur à dérive au silicium (SDD) hermétiquement scellé, d’un préamplificateur CMOS à faible bruit et mécanisme de réinitialisation, d’un refroidisseur Peltier, d’une alimentation de polarisation HT et d’un contrôleur de température. L’élément détecteur et le préamplificateur CMOS sont refroidis et régulés en température, garantissant un fonctionnement stable dans des conditions environnementales variables. La fenêtre d’entrée en béryllium est une fenêtre standard de 12,5 μm.

Le préamplificateur CMOS offre un temps de réinitialisation rapide et d’excellentes performances de taux de comptage.

Avec les réglages usine par défaut, la résolution en énergie est garantie dans une plage de température ambiante comprise entre +10°C et +30°C.

Le détecteurX-PIPS est doté d’un collimateur multicouche interne pour un rapport pic/bruit de fond amélioré.


Performances

  • Surface active : 15 mm²
  • Épaisseur : 0,5 mm
  • Résolution type : 127 eV (LMH)*
  • Gamme d’énergie : 1 à 30 keV

Applications

  • Spectrométrie des rayons X
  • Fluorescence des rayons X
  • Diffraction des rayons X
  • Spectrométrie Mössbauer
  • Densitométrie
  • Et bien d’autres encore

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