ESLX-S and LTS Detectors

Segmentierte, planare Silizium-Lithium-Detektoren zur Messung von Röntgenstrahlung und geladenen Teilchen

Segmentierungstechniken geeignet für alle Kristalldesigns: kreisförmig, rechteckig usw. Die ESLX-S-Detektoren befinden sich in einem spezifischen Kryostaten und bieten Hochenergie-Funktionen für Röntgenabsorption und Bildgebung.

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Merkmale

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ESLX-S: Für Hochleistungs-Röntgenmessungen in der Physik (PIXE, Synchrotrone ...), für zerstörungsfreie Prüfungen und in der Medizin
LTS: Für Hochleistungsmessungen geladener Teilchen in Physik (Konversionselektronen, Mini-Orange) und RMS (Luftüberwachung)
Eine ausgereifte, proprietäre Segmentierungstechnik von Mirion
Breites Spektrum an Formen (Pixel, Streifen) und Segmentierungen (gerade Streifen, kreisförmig, ein- oder doppelseitig)
Hervorragende Energieauflösung (150 eV bei 5,9 keV für ESLX-S, je nach Geometrie)
Gutes Verhalten bei hohen Zählraten
Dicke bis zu 10 mm
Minimaler Abstand 2 mm
Crosstalk ≤1 %
Doppelseitige Segmentierung unter Verwendung der proprietären Mirion-Dünnfenster-Technologie
Für ESLX-S: LN₂-, Kryogenerator- oder Peltier-Kühlung
LTS werden bei Raumtemperatur verwendet, können jedoch durch den Peltier-Effekt gekühlt werden, wenn verbesserte Leistung erforderlich ist.

Description

Die segmentierten Si(Li)-Detektoren (ESLX-S und LTS) werden unter Verwendung einer proprietären Technologie hergestellt, welche das Design dieser weltweit einzigartigen, segmentierten Siliziumdetektoren möglich macht.

Mirion hat die in der Fotolithografie bewährten, normalerweise in der Mikroelektronik verwendeten Techniken auf Si(Li)-Dioden angewendet. Dadurch sind alle Arten von Segmentierungsmustern möglich (gerade, gekrümmt Streifen, Pixel usw.).

Mirion bietet auch eine proprietäre, doppelseitige Segmentierung in schmalen Fenstern. Das ermöglicht den Bau von Teleskopsystemen mit mehreren Schichten von Si(Li)-Detektoren.

Die Segmentierung bietet viele Vorteile:

Hohe Effizienz durch beste Bereichsabdeckung: Unterdrückung toter Zonen zwischen aufeinanderfolgenden Streifen.
Optimale Granularität: Geringer Abstand bis 2 mm.
Schnellste Reaktion: Gutes Verhalten bei hohen Zählraten (bis zu 1 Million Impulse pro Sekunde) dank schneller Vorstufen, ohne Abstriche beim Signal-Rausch-Verhältnis.
Ausgelegt für zweiseitige Fotolithografie mit Abständen bis 2 mm.
Hervorragende FWHM-Auflösung: typischerweise 150 eV bei 5,9 keV auf gekühlten ESLX-S-Geräten für Röntgenmessungen.
Kein messbares Übersprechen.

Segmentierungstechniken geeignet für alle Kristalldesigns: kreisförmig, rechteckig usw.

Mehrere Si(Li)-Detektoren können in Arrays zugewiesen werden, um die Winkelabdeckung zu erhöhen und sie lassen sich auch stapeln.

Die ESLX-S-Detektoren sind in einem einzigartigen Kryostaten untergebracht und bieten Hochenergie-Röntgenabsorptions- oder Bildgebungsfunktionen (Gammakameras).

Die ESLX-S-Detektoren werden mit Flüssigstickstoff gekühlt und sind für viele Thermozyklen ausgelegt.

Diese Eigenschaften machen die ESLX-S-Serie zur besten Wahl für Röntgenmessungen in vielen Anwendungen wie Physikexperimenten sowie der nichtinvasiven Detektion.

Die LTS-Detektoren werden bei Raumtemperatur betrieben oder sind peltiergekühlt, um eine bessere Leistung im Vergleich zu Messungen bei Raumtemperatur zu erzielen.

Anwendungen

PIXE (Mikrosonden)
Synchrotron (EXAFS, medizinische Strahlführungen)
Nuklearphysik
Zerstörungsfreie Kontrolle
Radiografie
Bildgebung (Gammakameras)
Typischerweise bei LTS: CAM (Continuous Air Monitoring) für Beta-Partikel

Zugehörige Ressourcen

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