Benutzerdefinierte Konfigurationen
Das Design der Siliziumdriftdetektor-Arrays mit mehreren Elementen kann so konfiguriert werden, dass das System die spezifischen Anforderungen Ihrer Anwendung erfüllt und zugleich eine hervorragende Energieauflösung bei hohen Zählraten aufrechterhält.
Die X-PIPS™-Multielement-Detektor- oder SXD-Arrays sind äußerst empfindlich für Röntgenstrahlung und niederenergetische Gammastrahlung (bis 30 keV). Der SXD kann aus bis zu 13 Siliziumdriftdetektoren-Elementen (SDD) bestehen. Jedes Element verfügt über eine rauscharme CMOS-Vorstufe vom Reset-Typ. Das komplette System umfasst eine HV-Bias-Versorgung und wird mit einem kryogenen Pulsröhrenkühler elektrisch gekühlt. Ein dünnes Beryllium-Eingangsfenster (1 mil (25 μm)) ermöglicht die Messung von Röntgenstrahlung ab 1 keV (siehe Abbildung 1). Beispiele für verschiedene Designs sind unten gezeigt.
Die Detektorelemente und CMOS-Vorstufen sind gekühlt und temperaturgeregelt, was einen stabilen Betrieb unter sich ändernden Umgebungsbedingungen gewährleistet. Die Energieauflösung ist mit den Standardeinstellungen innerhalb eines Umgebungstemperaturbereichs von +10 °C bis +30 °C garantiert.
Leistung
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