Art der Strahlung |
Detektortyp |
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Geladene Teilchen |
γ-Ray |
Röntgen- |
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| X | X | X | NaI(Tl)-Szintillationsdetektoren – Standardgrößen bis 3 x 3 in. (7,6 x 7,6 cm). Konsultieren Sie im Werk für Größen, die nicht dargestellt sind, einschließlich der Jahreszahlen für Ge Compton-Unterdrückungssysteme. |
| X | PIPS® Ladungsteilchendetektoren – Komplette Linie robuster Detektoren für die Alpha- und/oder Beta-Analyse geladener Teilchen. | ||
| X | X | Ultra-Niedrigenergie-Ge-Detektoren – Spektroskopie von 0,3 bis 300 keV. | |
| X | X | Niedrigenergie-Ge-Detektoren – Niedrigenergie-Photonen-Spektrometer für den Energiebereich von 3 bis 500 keV. | |
| X | X | Ge-Detektoren mit breiter Energie – Hohe Effizienz und Auflösung von 3 keV bis 3 MeV. | |
| X | Koaxiale Ge-Detektoren – Allgemeine γ-Strahlungsspektroskopie von 40 keV bis 10 MeV. | ||
| X | X | XtRa-Detektoren – γ-Strahlungsspektroskopie von 3 keV bis 10 MeV. | |
| X | X | Ge-Detektoren mit Rückelektrode – strahlungsschädenbeständig – Spektroskopie von 3 keV bis 10 MeV. | |
| X | X | X | Germanium- und Siliziumdetektoren – für Forschung und kundenspezifische Anwendungen. |
| X | Ge-Well-Detektoren – Zähleffizienz bei 4π für kleine Proben. | ||
| X | Si(Li)-Detektoren – für Röntgenspektroskopie – 30 keV und darunter. | ||
| X | Array-Detektoren – für EXAFS- und Synchrotron-bezogene Anwendungen. | ||
| X | X-PIPS-Detektoren – Peltiergekühlte Silizium-Röntgendetektoren – Spektroskopie von 1 bis 30 keV. | ||
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